雷達(dá)液位計(jì) 是通過向被測(cè)介質(zhì)發(fā)射電磁波，發(fā)射后的電磁波遇到介質(zhì)被反射回來，通過時(shí)間擴(kuò)展技術(shù)原理，計(jì)算出電磁波發(fā)射和接收的時(shí)間間隔，從而進(jìn)一步推算出天線到被測(cè)介質(zhì)表面的距離?？梢?，雷達(dá)液位計(jì)能否順利發(fā)射出電信號(hào)對(duì)于液位測(cè)量就顯得頗為關(guān)鍵。但在我們?nèi)粘９ぷ髦?，信?hào)被干擾的現(xiàn)象時(shí)有發(fā)生。那么，導(dǎo)致雷達(dá)液位計(jì)信號(hào)異常的干擾因素都有哪些呢？

    通過對(duì)導(dǎo)致雷達(dá)液位計(jì)的信號(hào)異常的因素進(jìn)行分析發(fā)現(xiàn)，產(chǎn)生干擾的原因有很多，干擾源也多種多樣。但總體而言可以分為兩類：一類是內(nèi)部干擾，另一類是外部干擾。

    一、外部干擾

    1、天體、天電干擾

    天體就是指太陽或是其他的恒星，因此天體干擾指的就是它們發(fā)出的電磁波對(duì)雷達(dá)液位計(jì)發(fā)出的信號(hào)產(chǎn)生了一定的干擾。

    但對(duì)于天電這個(gè)術(shù)語，大家普遍感到陌生。其實(shí)，所謂天電，可以將其理解為由大氣、雷電等電離作用，或是火山、地震等自然現(xiàn)象產(chǎn)生的電磁波對(duì)雷達(dá)液位計(jì)的信號(hào)產(chǎn)生的干擾。

    2、光干擾

    光的干擾主要在于半導(dǎo)體部件。在用來控制儀表的部件當(dāng)中，多由半導(dǎo)體材料制成，而半導(dǎo)體元件在受到光的影響后，其導(dǎo)電性能就會(huì)改變，這樣一來，就會(huì)影響雷達(dá)液位計(jì)的正常使用。

    3、熱干擾

    火電廠作業(yè)過程中，其熱力設(shè)備會(huì)產(chǎn)生大量的熱量，這些熱量會(huì)引起周圍儀器以及環(huán)境溫度的變化，這也就是我們所說的熱干擾。這些干擾會(huì)對(duì)雷達(dá)液位計(jì)的元件產(chǎn)生影響，進(jìn)一步導(dǎo)致測(cè)量不精確等問題的出現(xiàn)。

    4、濕度干擾

    當(dāng)濕度升高，就會(huì)引起絕緣體電阻下降、電介質(zhì)介電數(shù)增加、骨架蓬松、電阻增加，進(jìn)而也就產(chǎn)生漏電流增加、電容量增加、電感器變化等。此外還會(huì)使膠質(zhì)變軟，測(cè)量精也會(huì)下降。

    5、機(jī)械干擾

    所謂機(jī)械干擾，是指由于外部機(jī)器的大幅震動(dòng)或沖擊，影響到雷達(dá)液位計(jì)，使雷達(dá)液位計(jì)內(nèi)部的一些元件同樣發(fā)生震動(dòng)甚至是移位、變形，也可能使儀表頭指針?biāo)蓜?dòng)，使測(cè)量產(chǎn)生誤差，對(duì)于這種情況我們通常加以隔板、減震彈簧等來緩解沖擊。

    6、化學(xué)干擾

    化學(xué)干擾通常是指一些具有腐蝕性的氣體，例如酸、堿等，這些氣體長時(shí)間的作用，不僅僅會(huì)損壞儀器及內(nèi)部元件，還會(huì)與金屬作用導(dǎo)電，影響雷達(dá)液位計(jì)的正常工作。

    二、內(nèi)部干擾

    干擾不僅僅來自于外部，也來自于雷達(dá)液位計(jì)內(nèi)部。例如其中的導(dǎo)線、電源變壓器電子元件之間的電感、電容等所產(chǎn)生的干擾，此外，內(nèi)部元件還會(huì)產(chǎn)生噪聲干擾。如今，大部分的雷達(dá)液位計(jì)經(jīng)改進(jìn)后，由于采用了高頻率微波技術(shù)，使液位計(jì)的性能大為改善，干擾也隨之降低。